用什么仪器检测石墨烯膜材料?

2018-09-04

石墨烯类膜材料

图为石墨烯类膜材料

Q:

用什么仪器可以测出膜的厚度和弯曲度?
 

A:

AFM(原子力显微镜),通过AFM对纳米材料表面形貌、颗粒度、粗糙度和拉曼光谱性能进行表征、分析,从而对样品提供更加全面的信息。

薄膜材料厚度可以用XRD测试,XRD即X射线衍射,它是一种晶体检测方法,X射线打在原子周期排列的晶体上时会产生衍射图谱,衍射图谱反映了晶体内部原子的排列方面的信息,不同晶体的原子排列方式是不同的,因此,通过衍射图谱就能确定晶体的种类、相成分等等一系列信息。

XRD即X-ray Diffraction 的缩写,X射线衍射,通过对材料进行X射线衍射,分析其衍射图谱,获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。一种结构表征方法。

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