AFM-O光学原子力显微镜,具备光学和原子力成像功能
AFM-O光学原子力显微镜一体机采用光学显微镜和原子力显微镜一体式设计,光电控制一体化;同时具备光学和原子力显微镜成像功能,两者可同时扫描成像,互不影响;同时具备光学二维测量和原子力显微镜三维测量功能;
产品介绍
- 光学显微镜和原子力显微镜一体式设计,光电控制一体化;
- 同时具备光学和原子力显微镜成像功能,两者可同时扫描成像,互不影响;
- 同时具备光学二维测量和原子力显微镜三维测量功能;
- 采用了垂直光路设计,配合气液两用型探针架可同时在空气或液体中使用;
- 利用了高倍光学定位系统,实现探针和样品扫描区域精确定位;
- 简易的激光光斑调节方式,可通过光学CCD窗口实时观测及调节光斑;
- 单轴驱动样品自动垂直接近探针,准确定位扫描区域,使针尖垂直于样品扫描;
- 马达控制加压电陶瓷自动探测的智能进针方式,保护探针及样品;
- 配备气动式减震台,抗干扰能力强,不影响仪器使用操作;
- 集成扫描器硬件非线性校正用户编辑器,纳米表征和测量精度优于98%。
应用范围
技术参数
原子力工作模式 | 接触、轻敲、F-Z力曲线测量、RMS-Z曲线测量、摩擦力/侧向力、振幅/相位、磁力和静电力,可选配液体模式 |
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原子力扫描范围 | XY向20um,Z向2um(可选配XY向50um,Z向5um) |
样品尺寸 | Φ≤90mm,H≤20mm |
扫描分辨率 | XY向0.2nm,Z向0.05nm |
样品移动范围 | 0~20mm |
光学物镜 | 5X,10X,20X,50X平场复消色差 |
光学目镜 | 10X |
CCD传感器 | 300万像素 |
显示屏 | 11.6寸平板显示器,带测量功能 |
光学调焦方式 | 电动调焦 |
扫描速率 | 扫描速率0.6Hz~4.34Hz,扫描角度0~360° |
扫描控制 | XY采用18-bit D/A,Z采用16-bit D/A |
数据采样 | 14-bit A/D、双16-bit A/D多路同步采样 |
反馈方式 | DSP数字反馈 |
反馈采样速率 | 64.0KHz |
通信接口 | USB2.0/3.0 |
运行环境 | WindowsXP/7/8/10操作系统 |