- 光机电算一体化设计
- 内置复消色差光学系统，同时清楚看到探针针尖和拉曼激光光斑
- 不移动样品可以从相同的点同时采集AFM和拉曼数据，原位检测样品的各种形貌信息与化学信息，这样就确保了数据的一致性
- 高通量的光信号收集和检测硬件保证采集每一点的信号和拉曼光谱
- 扫描探头和激光耦合器集成一体，悬挂式防震，抗干扰能力强
一、简介：
FM-AR532/AR785是一台整合了原子力显微镜与激光拉曼光谱仪的先进设备，是两者技术的完美结合。
可以分别利用原子力显微镜和拉曼光谱仪对纳米材料表面形貌、颗粒度、粗糙度和拉曼光谱性能进行表征、分析，从而对样品提供更加全面的信息。
这样的集成，能让用户极大的提高工作效率，将更多的时间用于数据采集和分析，而无需为繁琐的仪器操作而苦恼。
二、特点：
1、光机电算一体化设计。
2、内置复消色差光学系统，同时清楚看到探针针尖和拉曼激光光斑。
3、不移动样品可以从相同的点同时采集AFM和拉曼数据，原位检测样品的各种形貌信息与化学信息，这样就确保了数据的一致性。
4、高通量的光信号收集和检测硬件保证采集每一点的信号和拉曼光谱。
5、扫描探头和激光耦合器集成一体，悬挂式防震，抗干扰能力强。
三、应用：
纳米科技、物理、化学、药物学、材料科学、半导体研究、晶体研究、薄膜与聚合物研究、矿物学、地质学、分析科学等。