图为石墨烯类膜材料
Q:
用什么仪器可以测出膜的厚度和弯曲度?
A:
AFM(原子力显微镜),通过AFM对纳米材料表面形貌、颗粒度、粗糙度和拉曼光谱性能进行表征、分析，从而对样品提供更加全面的信息。
薄膜材料厚度可以用XRD测试，XRD即X射线衍射，它是一种晶体检测方法，X射线打在原子周期排列的晶体上时会产生衍射图谱，衍射图谱反映了晶体内部原子的排列方面的信息，不同晶体的原子排列方式是不同的，因此，通过衍射图谱就能确定晶体的种类、相成分等等一系列信息。
XRD即X-ray Diffraction 的缩写，X射线衍射，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。一种结构表征方法。